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「半导体检测」电子显微镜配件都有哪些品牌「赛可检测设备」

来源:未知 编辑:admin 时间:2019-04-06

  上海赛可检测设备有限公司指出在电子制造业,印制电路板(PCB)组件越来越小、组装密度越来越高已成为持续的发展趋势。射线检测作为五大常规检测方法之一的射线检测(Radiology),在工业上有着非常广泛的应用。

  「半导体检测」电子显微镜配件都有哪些品牌「赛可检测设备」X-RAY是一种电离辐射,对人体存在一定的危害,x-ray照射量越大,对人的损伤程度就越大,而且x光量可在身体内累积,并对人体血液成分中的白细胞起到一定的杀伤力,迫使血液内的白细胞数量减少,(一定数量的白细胞可以对身体起免疫作用,白细胞过多和过少都不利于身体健康),进而导致人体机能下降,身体免疫力降低,而发生病变。

  这种趋势的出现不一定是因为需要PCB组件变得更小,而是因为新设计大幅采用了更多的隐藏了焊接连接的球栅阵列封装(BGA)和其他器件,比如方形扁平无引脚封装(QFN)和柱栅陈列封装(LGA)。X射线检测结果可以看出,红色圆圈内为疑似外来物的显示,该显示在底片上呈不规则的白色片状结构,影像的黑度不均匀,且位于叶身有型腔的区域,但位置随机分布。

  「半导体检测」电子显微镜配件都有哪些品牌「赛可检测设备」与较大的有引脚封装相比,这类器件通常在性能和成本方面具有一定优势,所以更小更密的趋势可能会继续保持。

  检测基本原理:由于毛细现象的作用,当人们将溶有荧光染料或着色染料的渗透剂施加于试件表面时,渗透剂就会渗入到各类开口于表面的细小缺陷中(细小的开口缺陷相当于毛细管,渗透剂渗入细小开口缺陷相当于润湿现象),然后清除依附在试件表面上多余的渗透剂,经干燥后再施加显像剂,缺陷中的渗透剂在毛细现象的作用下重新吸附到试件的表面上,形成放大的缺陷显示。用目视检测即可观察出缺陷的形状、大小及分布情况。

  X射线检测的另一个优点是可以解决质量问题。X射线检测无需借助具有潜在破坏性的返工或显微剖切,而这两种方式会增加成本,造成组件报废。显微剖切还需要操作者基于所学知识猜测问题出在了哪里。射线检测通过空气或其它物质产生电离作用,利用仪表测量电离的程度就可以计算x射线的量。

  「半导体检测」电子显微镜配件都有哪些品牌「赛可检测设备」射线照相能检出的长度和宽度尺寸分别为毫米数量级和亚毫米数量级,甚至更少,且几乎不存在检测厚度下限。容易检出那些形成局部厚度差的缺陷:对气孔和夹渣之类缺陷有很高的检出率。几乎适用于所有材料,在钢、钛、铜、铝等金属材料上使用均能得到良好的效果,该方法对试件的形状、表面粗糙度没有严格要求,材料晶粒度对其不产生影响。

  自动光学检测(AOI)是SMT行业中一项成熟的关键工艺控制技术,它在很大程度上提高了对成品质量的信心。但是对于器件上那些无法用肉眼看到的焊接连接要如何检测呢?X射线检测正是要找的答案。

  其他无损检测方法有涡流检测(ECT)、声发射检测(AE)、热像/红外(TIR)、泄漏试验(LT)、交流场测量技术(ACFMT)、漏磁检验(MFL)、远场测试检测方法(RFT)、超声波衍射时差法(TOFD)等。无损检测就是Non Destructive Testing,缩写是NDT(或NDE,non-destructive examination),也叫无损探伤,是在不损害或不影响被检测对象使用性能的前提下,采用射线、超声、红外、电磁等原理技术并结合仪器对材料、零件、设备进行缺陷、化学、物理参数检测的技术。常见的如超声波检测焊缝中的裂纹。

  由于“隐藏了连接点”的器件被误贴装,而造成生产出的组件无法维修或需要高昂维修费用,而采用X射线作为制程控制方法可去除这种风险。目前射线检测按照美国材料试验学会(ASTM)的定义可以分为:照相检测、实时成像检测、层析检测和其它射线检测技术四类。

  误贴装器件的返工不仅会耗费时间,还可能引起组件上的其他问题,例如由于局部加热而导致周围元件或PCB产生问题。返工还有可能超过双面组件所能承受的最多回流焊周期次数。造成工艺流程后期出现故障,例如JTAG或功能测试中,诊断和重新测试会产生额外的时间和费用。

  当高频电脉冲激励压电晶片时,发生逆压电效应,将电能转换成声能(机械能),探头以脉冲的方式间歇发射超声波,即脉冲波。当探头接受超声波时,发生正压电效应,将声能转换成电能。超声检测所用的常规探头,一般由压电晶片、阻尼块、接头、电缆线、保护膜和外壳组成,一般分为直探头和斜探头两个类别,后者的话通常还有一个使晶片与入射面成一定角度的斜锲块。

  那么你应该在什么时候使用X射线呢?当然应该在“第一次”检测过程中就使用,这样可以确保所使用炉子的加热曲线对无引脚器件而言是最佳方案。在SMT电子制造业,PCB印刷电路板组件越来越小、组装密度越来越高已成为持续的发展趋势。

  在这之后,明智的做法是在组件生产的整个过程中选取样品进行检测;通常是在一个批次开始生产的初期、中期和末期选取几个样品进行检测。备选方式是使用一个“在线式”流程,但需要注意的是X射线检测(即使是自动化过程)的速度相对较慢。检测人员对相关显示的信息进行了统计,然后结合这些信息对共检的底片进行复查,复查结果显示所有叶片在共检时都不存在外来物显示。

  在操作过程中,无引脚器件(尤其是BGA)的放置很简单,并且通常不会引起什么问题,所以应该慎重使用X射线检测。目视检测零件外表面光滑无异物,说明该显示存在于零件内表面,采用冷光源伸到型腔内,裸眼可见该显示处有多余物紧贴在零件内壁上。

  目前已有两种检测焊接质量的自动测试系统上市:传输X射线测试系统与断面X射线自动测试系统。传输X射 线系统源于X射线束沿通路复合吸收的特性。对SMT的某些焊接,如单面PCB上的J型引线与细间距QFP.传输X射线系统是测定焊接质量最好的方法,但它却不能区分垂直重叠的特征。困此,在传输X射线透视图中,BGA器件的焊缝被其引线的焊球遮掩。对于RF屏敞之下的双面密集型PCB及元器件的不可见焊接,也存在这类问题。

  X射线检测还可以减少生产线末端的人工检测,例如无法使用AOI进行全面检测的细间距器件(取决于所使用的系统类型),或者是其他BGA检测方法(例如使用Ersascope)。

  从生产过程中的质量控制角度出发,探讨了目前一些生产中应用于球栅阵列封装(BGA)的检测方法和实用系统,详细论述了X射线检测系统的开发原理及研究应用状况,指出掌握和提高检测技术,将能有效控制BGA的焊接和组装质量。BGA技术是将原来器件PLCC/QFP封装的J形或翼形引线,改变成球形引脚;把从器件本体四周“单线性”顺列引出的引线,改变成本体腹底之下“全平面”式的格栅阵排列。这样,既可以疏散引脚间距,又能够增加引脚数目。

  除了PCBA,X射线还可以对其他制造出的元件进行无损检测,例如电缆组件或其他需要检测内部细节的机加工部件。射线检测作为五大常规检测方法之一的射线检测(Radiology),在工业上有着非常广泛的应用。

  甚至还能进行一定程度的测量。所以说一台功能强大的X射线检测设备是现代电子产品组装生产线所必须的设备。既然你已经决定了需要这样的一台设备。

  近年来各类型的智能终端设备(如智能手机和Pad)以及智能***产品的兴起,使封装小型化和组装的高密度化以及各种新型封装技术更趋精益求精,对电路组装质量的要求也越来越高。以自动光学检测、ICT针床测试、功能测试(FCT)、X-RAY射线检测技术便被广泛应用于SMT、LED、BGA、CSP倒装芯片检测,半导体、封装元器件、锂电行业,电子元器件、汽车零部件、光伏行业,铝压铸模铸件、模压塑料,陶瓷制品等特殊行业的检测。

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